Medidor de nível de admitância RF NYSP-M20 para poços profundos com display digital 4-20mA e sonda de cabo 304

Medidor de nível de admissão de RF NYSP-M20 para poços profundos com 4-20mA e sonda de cabo 304

NYSP-M20RFMedidor de nível de admissãoPrincípio de funcionamento

A tecnologia de medição da condutividade de RF é uma tecnologia de medição de nível com vantagens únicas.a técnica de condutividade de RF incorpora um circuito de escudo do condutor e um circuito do helicóptero na unidade eletrônica, de modo que a impedância e a resistência de capacitância podem ser medidas separadamente. A impedância e a reatância de qualquer pingente são calculadas pelas leis da física para serem iguais em magnitude,Assim, o efeito do pingente pode ser medido e eliminado da saída total por mudança de fase do circuito do oscilador.

A sonda do medidor de nível de líquido de condutividade de radiofrequência é instalada no reservatório de armazenamento.e a alteração do sinal de radiofrequência causada pela alteração do nível do líquido é obtida através da sondaA extremidade do escudo de condução da sonda impede que a corrente de RF forme um circuito através do material suspenso, garantindo a precisão da medição.

NYSP-M20RFCampo de aplicação do medidor de nível de admissão

1- campos petrolíferos: reservatórios de armazenamento de petróleo bruto, reservatórios de armazenamento de petróleo refinado, separadores trifásicos, reservatórios de sedimentação, reservatórios de esgotos, interfaces petróleo-água, reservatórios de lama de perfuração, etc.

2Química: torres de destilação de petróleo bruto, silos de matérias-primas, silos intermediários, tanques de reação, silos de sólidos, tanques de armazenamento de asfalto, etc.

3- Metalurgia: altos fornos, silos de minério, trituradores de minério, silos de matérias-primas, silos de materiais auxiliares, silos de alumina em pó, reservatórios de celdas eletrolíticas, etc.

4Outros: pedreiras, minas de carvão, protecção do ambiente, construção naval e outras indústrias.

NYSP-M20RFMedidor de nível de admissãoParâmetros técnicos

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